第115章 数据背后的眼睛与老街的茶馆 (第1/2页)
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一周后,课题组进入第二轮样品辐照实验。
实验数据像往常一样流入共管服务器,小林编写的算法脚本自动进行着清洗、分类和初步分析。但在一个安静的午后,李明恺在复核一批透射电镜照片时,停下了滚动鼠标的手。
屏幕上,是三组不同掺杂样品在相同辐照剂量后的晶格损伤对比。图像清晰,数据完整,但李明恺的注意力被一个微小的细节吸引了——在某个特定角度下,所有样品损伤区域的背景噪音中,都出现了极其微弱的、周期性的明暗条纹。
这种条纹在常规分析中会被当作设备本身的“栅极纹”或样品制备瑕疵过滤掉。但李明恺调出原始数据流,仔细对比了图像采集时的设备日志——电子束的扫描模式、束流稳定性、乃至样品台的微振动补偿记录,一切正常。
那么,这种周期性,或许来自样品本身?
他想起了崔浩提供的情报中,那张展示离子源电流稳定性与特定残留气体分压强关联的图表。如果……如果某种气体残留不仅影响离子源,还会在电子束成像时,因为与样品发生微弱的相互作用,产生这种周期性的衬度变化?
这个念头让他心跳加快。如果猜想成立,那么这种条纹的强度、周期,或许能反过来推演出样品表面残留气体的某些特征,甚至……指向昭栄特定工艺的“指纹”。
他没有立刻声张,而是默默将这批图像单独标记,写了一个简单的脚本,批量提取条纹的强度分布和空间频率。分析结果需要时间。
第二天上午,课题组的周例会上,李明恺在汇报完常规进展后,“顺便”提了一句。
“另外,我在处理昨天的tem图像时,注意到一个可能属于系统噪声的周期性背景信号,挺有意思的。”他调出其中一张放大的图像,指向那些几乎难以察觉的条纹,“我已经初步分析了它的空间频率,看起来不像我们已知的任何设备固有噪声模式。渡边博士,小林君,你们以前在处理类似材料时,遇到过这种情况吗?会不会和样品表面状态,或者制样过程中引入的某些东西有关?”
他将问题限定在“制样过程”这个宽泛且安全的范围,并把图像和分析数据同步到了会议共享屏。
渡边绫凑近屏幕,仔细看了半晌,眉头微蹙:“很细微……我之前确实没注意过。制样过程我们采用的是标准流程,理论上不应该引入这种周期性结构。李桑,能把你提取的特征参数发我一份吗?我想和我们过往的数据比对一下。”
“当然,会后发你。”李明恺看向小林。
小林的目光锁定在屏幕的频谱分析图上,手指在平板电脑上快速滑动,似乎在调阅什么。几秒钟后,他抬起头,表情一如既往的平静:“这种信号非常微弱,信噪比很低。也可能是图像压缩或传输过程中产生的伪影。需要检查原始数据文件的完整性。”
“原始文件我已经校验过哈希值,没有损坏。”李明恺立刻回应,同时捕捉到小林镜片后目光一闪而过的锐利——那不是对“伪影”的怀疑,更像是对“信号可能真实存在”的本能警觉。
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